CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
產(chǎn)品特色：
■CE 認證合格
■可偵測導磁、非導磁材料
■資料儲存支援 255 筆
■可設定 Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值範圍
■選擇平均值、zui大值、zui小值及zui大值-zui小值
■常用厚度量測點可使用快速一點校正
■兩點校正正常操作
■背光顯示
■使用者可選擇 μm/mils
■自動關(guān)機功能
CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
一般規(guī)格：
顯示：31/2 位數(shù)字液晶顯示，zui大 1999 讀值。
電池電壓不足顯示：當電池電壓低於操作電壓時，
" "顯示。
操作環(huán)境：0°C至40°C，相對濕度<90%R.H.。
避免有強度磁場的環(huán)境。
儲存環(huán)境：-20°C至60°C，0 至 80%R.H. （電池移除後）。
精確度測試環(huán)境：23°C±5°C，相對濕度<75%R.H.。
自動關(guān)機：15 秒。
尺寸：148mm（高）x105mm（寬）x42mm（厚）。
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CHY-115
技術(shù)資料：
範圍：0 至 40.0mils （0 至 1000μm）
解析度：0.1mils/1μm
回應時間：1 秒
精確度：
±（4位）在0至7.8mils
±（10 位）在 0 至 199μm
±（3%+4 位）在 7.9mils 至 40mils
±（3%+10 位）在 200μm 至 1000μm
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